Tektronix、超高性能テスト/計測における新基準を確立する7シリーズDPOオシロスコープを発表

独自のASICを搭載し、業界最小クラスのノイズ、最高クラスの有効ビット（ENOB）、最大10倍の高速データ転送を実現

オレゴン州ビーバートン, 2025年9月22日 /PRNewswire/ — Tektronixは本日、新世代の超高性能測定器の第一弾となる7シリーズDPOオシロスコープを発表しました。7シリーズの最高周波数は25GHzで、業界最小クラスのノイズと最高クラスの有効ビット（ENOB）を実現すべく設計されています。この新型オシロスコープは、新しく開発された2つのカスタムASICを含む、最新の信号パスとデータ処理性能の向上により、高速通信、高エネルギー物理学、AI、量子コンピュータに携わるエンジニアや研究者の限界への挑戦を強力にサポートします。

従来の計測器に比べて最大で10倍高速なデータ転送¹と、複雑な信号を圧倒的な低ノイズで取り込んで解析することができるため、より多くを観察し、より深く理解し、より迅速に研究や設計を進めることが可能になります。

TektronixのChris Bohn社長は、「テスト・システムの性能の限界が革新への制限になってしまったら、新しいアプローチが必要です。7シリーズは、世界で最も複雑な課題に取り組んでいるエンジニアと共同で設計されており、高周波数帯域のカバレッジ、低ノイズ、高速解析など、エンジニアが最も必要としていることを実現しています。このオシロスコープは、お客様が限界を突破するために必要な能力と自信を提供します」と述べました。

超高性能計測おける正確さの新たな基準

開発初期にご協力いただいたお客様には、高エネルギー物理研究、大手半導体メーカ、国立研究所、RFシステム・インテグレータが含まれており、これらすべてのご意見がシリーズの機能の優先度の形成に反映されています。

• 比類のない信号忠実度：極めて低いランダム・ノイズにより、8GHzで7.5ビット～25GHzで6.5ビットという業界屈指の有効ビット（ENOB）性能を実現し、全周波数帯域にわたって非常にクリアな信号取り込みを提供します
• 妥協のない可視性：QuietChannel^™テクノロジは、高速信号損失を補正するアクティブ・イコライゼーションを適用し、ノイズを低減、測定の忠実度を高めます
• 圧倒的な高速スループット：10G SFP+ LANとTekHSI^™技術による最大10倍のデータ転送速度で、検証のスループットを加速します
• 拡張性に優れた設計：アップグレード可能なアーキテクチャとTekConnect^®プローブ・インタフェースの互換性により、現在お持ちのプローブ資産を有効に活用いただけます
• 最新のワークフロー用の設計：専用のシリアル解析ツール、15.6型1080pタッチ・スクリーン、WindowsとLinuxのデュアルOSに対応したサポートにより、検証を効率化し、洞察を加速します

独自のカスタムを搭載

7シリーズDPOは、カスタムASIC、最適化されたFPGA、高性能GPUを組み合わせた次世代の信号パス構造をベースに構築されており、ノイズを低減し、シグナル・インテグリティを維持し、解析を高速化します。その中核コアとなるのが、Tektronixの最新チップセットであるTek079およびTek085であり、新世代オシロスコープ用のシリコンのベース技術になります。業界最小クラスのノイズと最高クラスのENOBを維持しながら、より高い周波数帯域のモデルにも対応するように拡張性の高い設計となっています。この新しいシリコンは、要求の厳しい環境における測定確度を高めるための長年にわたる集中的な開発設計、そして、すべての仕様が信頼できる確度で厳密に検証されていることを保証するための計測学の専門家との緊密なパートナシップがもたらしたものです。

TekScopeソフトウェアによるシームレスなユーザ・エクスペリエンス

7シリーズには、直感的なデザイン、プラットフォーム全体を通しての一貫性、そして深い洞察を素早く得るために最適化されたタッチ操作で、定評のあるTekScope^®ソフトウェアが搭載されています。ユーザ・インタフェースとプログラム制御を統合することにより、ワークフローとアプリケーション全体でシームレスなユーザ・エクスペリエンスを提供し、新たな発見と革新を加速します。

提供開始時期

Tektronixの新しい超高性能7シリーズの最初の製品であるDPO714AXは、本日より受注を開始し、今月後半に出荷を開始する予定です。詳細のご確認、デモのご要望はtek.comからお願いします。

¹Tektronix DPO70000オシロスコープとの比較に基づく

Tektronixについて

Tektronixは、80年近くにわたり、計測、発見、そして革新においてエンジニアの皆様から信頼を寄せられてきたパートナーです。現在、精度とシンプルさを兼ね備えた試験・計測ソリューションを提供し、エンジニアの皆様がより良い未来を築くためのブレークスルーを加速できるよう支援しています。詳細はtek.com/newsroomをご覧ください。

TektronixはTektronix, Inc.の登録商標です。記載されているその他の製品名は、各社のサービスマーク、商標または登録商標です。

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